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德国KELLER红外测温仪--抛光金属非接触式温度测量的新专利方法红外测温仪(高温计)CellaTemp PA21AF1

发布时间:2020-07-02

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德国KELLER红外测温仪---抛光金属非接触式温度测量的新专利方法

当在金属的非接触式温度测量中,当温度低于200℃时,热辐射较低,因此这对于红外测温计始终是一个很大的挑战。
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由于金属的辐射率极低,因此常用的波长在8-14微米的低温温度计往往不能提供可靠的测量结果。长期以来在市场上销售的带有硫化铅探测器的短波测量高温计,仅能通过光斩波器来产生交变信号。可移动式滤板的维护成本和故障率均较高,除此之外,由于移动物体的测量反应时间较长,因此此类设备有着很大的局限性。出于纯粹的实际原因,无法建立采用“金镜”进行测量的程序。因为其先决条件是,测量距离只有几毫米,镜面无尘。
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KELLER公司出品的、基于新电子和光学模块的红外测温仪CellaTemp PA 28,加载了一个光电扩展InGaAs传感器。为了接收更多的热辐射,特别开发了一个带有色彩校正透镜的高通量镜头。获得专利的信号处理方式能够通过一个较大的动态范围将微微安(Picoamper)量级的微小传感器电流进行无噪音放大。功能强大的处理器和复杂的环境温度线性化和补偿的数学算法,即使在差条件下——即短的测量时间、测量对象的温度极低、辐射率极小——依然能够确保稳定的测量信号。
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采用CellaTemp PA 28短波测量高温计,可以在以毫秒为单位的测量时间内稳定、可靠地测量辐射率仅有10%的、温度从75℃ 起的金属温度。该款设备还可用于快速测量譬如卷材涂布或感应加热装置中的移动物体。

KELLER红外测温仪PKF各型号技术参数

型号
测量范围 光谱范围 焦距 测量区域大小 测量误差*1 定位时间t98 可重复性 温度系数*2
光纤红外测温仪,采用光纤和测量头
PKF 26 AF 1 300-1600°C 1.0-1.7μm 0.2m-∞ 180:01:00 测量值 [°C] 的 0.3%,加上 2.5 K ≤ 2 ms 当 T > 600 °C 2 K 0.07 %/K
572-2912°F
PKF 26 AF 2 300-1600°C 1.5 m Ø 7.2 mm ≤ 2 ms 当 T > 600 °C 2 K
572-2912°F
PKF 26 AF 3 300-1600°C 0.12 m-∞ 70:01:00 ≤ 2 ms 当 T > 600 °C 2 K
572-2912°F
PKF 36 AF 1 550-2500°C 0.78-1.06μm 0.2 m-∞ 190:01:00 ≤ 2 ms 当 T > 900 °C 2 K
1022-4532°F
PKF 36 AF 2 550-2500°C 1.08 m Ø 5.6 mm ≤ 2 ms 当 T > 900 °C 2 K
1022-4532°F
PKF 36 AF 3 550-2500°C 0.12 m-∞ 85:01:00 ≤ 2 ms 当 T > 900 °C 2 K
1022-4532°F
*1 当 ε = 1 和 Tu = +23 °C 时
*2 误差加上 Tu = +23 °C

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光学系统的分辨率和聚焦性能,使得远距离测量或对大于2毫米的微型对象的测量成为可能。因为该款设备的工作原理是基于恒光技术,因此不涉及到移动部件,因此使用多年后,仍然能够保证免维护、无损耗。德国KELLER公司将与中国销售和服务中心-苏州知非机电设备有限公司( www.chifee.com)一同合作,为您提供完整的温度测量方案。
KELLER红外测温仪 CellaTemp PK系列
CellaTemp PK系列红外测温仪是在原有的CellaTemp PQ系列的基础上进行了升级,并取代了CellaTemp PQ系列,相对PQ系列,PK系列增加了信号的开关输出方式,并可以直接在测温仪上进行参数调节。性价比更高,使用更方便。

由红外线测温仪CellaTemp PK 捕捉被测物发出的红外辐射并将其转换成电信号,并通过模拟输出在小显示屏上显示相应的温度读数。

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由于采用了模拟和数字线性化的独特的组合,使红外线测温仪CellaTemp PK得到分辨率的信号处理。传感器本身具有的大量程具有非常高的温度分辨率和极低的NETD(噪声等效温差)。即使是很短的响应时间和低温度段测量,也能提供稳定的测量数据。 通过使用高节拍微处理器可以达到小2毫秒的测量时间。

以先进的LED技术为基础而装配的非常明亮的小显示屏幕,即使从很远的地方也可以读取数值并同时达到节能效果。

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产品特点:
测温范围从 -30 至 2500 ℃
模拟输出0/4 – 20 毫安
可通用配置的开关输出
通过精密镜头可得到高光学分辨率
大测量范围的同时具有很高的温度分辨率
所有参数可以通过传感器上的按键调节
通过按键或者控制信号可启动测试功能
通过M30 的中心螺纹使安装变得简单
醒目且高亮度的LED 显示
一体机或可通过光纤引导的分体机
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KELLER紧凑型高温计
型号
测温范围
应用
PK11
0–1000℃
非金属
PK12
-30– 300℃
低温物体
PK14
0 – 500℃
大型被测物

PK18

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0 – 1000℃
恶劣测量环境的非金属
PK21
250 – 1600℃
金属、陶瓷及玻璃熔液
PK29
150 – 800℃
铝、表面发亮的金属及激光应用
PK31
500 – 2500℃
高温下的金属、陶瓷
PK41
300 – 2500℃

玻璃表面

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PK51
400 – 1400℃
火焰加热炉
光纤高温计
型号
测温范围
应用
PKF 26
300 – 1600℃
金属、陶瓷及玻璃熔液
PKF 36
550 – 2500℃
高温下的金属、陶瓷
红外测温仪(高温计)CellaTemp PA
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德国KELLER(凯乐)公司新推出的CellaTemp PA系列红外测温仪是在CellaTemp PZ系列的基础上进行的升级,并取代CellaTemp PZ系列的多功能测温仪,相比CellaTemp PZ系列,新型测温仪CellaTemp PA系列采用模块化设计,增加多种信号输出方式,可实现不同扩展功能。整体价格基本保持不变,功能更加,性价比更高。
红外线测温仪(高温计)CellaTemp PA 基于模块化的功能——光学器件、传感器、信号处理、操作控制器、数据输出。通用组件可以多种方式组合,可产生25种不同的变体供选择。
通过CellaTemp PA,KELLER MSR 公司将自定义配置的仪表概念付诸现实,满足了特殊应用的需要。
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红外测温仪CellaTemp PA 有两个模拟输出。用户可以设定输出的测量变量。其中一个信号输出可以设置为输入,例如,将熔炉温度用作温度读数的修正系数。两个转换输出可以实现各种组合,还可以用作开关输入。
除了发射率、模拟电流范围和信号平滑等标准参数外,CellaTemp PA还可进行许多新参数的设置。通过一条错误修正曲线,高温计可以实现自定义配置。在技术温度读数时,考虑了防护镜头的透射率或者对周围环境反射光的补偿。另一个新的可选功能就是不连续作业中的自动温度检测。
四个可互换的镜头使得该高温计在靶点大小和距离比方面具有很大的通用性。这些光学装置具有无限的可调性,可以精确瞄准从几毫米到几米的距离。即使靶点小到0.3毫米,也能达到很高的精确度。
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红外线测温仪 PA可以通过目镜瞄准系统、激光引导或外置摄像头来瞄准目标。
红外线测温仪 PA的用户友好型小键盘和LED显示屏面便于操作和配置。温度读数在几米远的地方也容易读取。可以用按钮直接设置各项参数,也可通过电脑上的USB或者RS 485接口进行设置。RS 485接口可用于网络连接。
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红外测温仪(高温计)CellaTemp PA 具体型号及主要特性:
型号/规格
温度范围
应用
波长
类型
光纤
PA10
0-1000℃
塑料、有机材料、橡胶、纸、油漆、清漆、食品、涂层金属、水泥、沥青
8-14μm
单色

PA13

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500-1600℃
火焰加热炉
3.9μm
单色
PA15
300-2500℃
玻璃表面
4.46-4.82μm
单色
PA20
250-2500℃
熔融玻璃、陶瓷、石墨、铜焊、退火、锻造、烧结、热处理
1.1-1.7μm
单色
PA29
150-2000℃
低辐射金属、铝、青铜、钛
1.8-2.2μm

单色

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PA30
500-2500℃
金属、陶瓷、石墨、晶体生长、轧机、烧结、锻造
0.8-1.1μm
单色
PA35
600-3000℃
金属、半导体
0.82-0.93μm
单色
PA40
650-3000℃
熔融金属、水泥、焊接、晶体生长、石墨、烧结、轧机
0.95/1.05μm
双色
PA43
500-3000℃
线材、棒材、线圈加热、电加热丝
0.95/1.05μm
双色
PA83
650-1700℃
熔融金属
0.95/1.05μm
双色
PA21

350-2000℃

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熔融玻璃、晶体生长、金属、铜焊、锻造
1.1-1.7μm
单色
PA31
700-2500℃
金属、陶瓷、石墨、晶体生长、烧结
0.78-1.06μm
单色
PA41
900-3000℃
熔融金属、石墨、烧结
0.95/1.05μm

双色

型号 测量范围 光谱范围 焦距 测量区域大小 测量误差*1 定位时间t98 可重复性
配有 LED 指示灯的单色红外测温仪
PKL 11 AF 1
0 - 1000 °C
32 - 1832 °F
8 - 14 μm 0.295 m Ø 9 mm 测量值 [°C] 的 0.75%,至少 2.0 K ≤ 60 ms 1 K
0.1 K/K (当 T < 250 °C时)
0.04 %/K (当 T > 250 °C时)
PKL 11 AF 2
0 - 1000 °C
32 - 1832 °F
0.089 m Ø 3.2 mm ≤ 60 ms 1 K
PKL 28 AF 1
250 - 1600 °C
482 - 2912 °F
1.0 - 1.7 μm 0.21 m Ø1.4 mm 测量值 [°C] 的 0.3%,加上 2.5 K ≤ 2 ms 当 T > 600 °C 1 K 0.07 %/K
PKL 28 AF 2
250 - 1600 °C
482 - 2912 °F
1.0 m Ø 6.7 mm ≤ 2 ms 当 T > 600 °C 1 K
PKL 29 AF 1
180 - 1200 °C
356 - 2192 °F
1.8 - 2.2 μm 0.29 m Ø 6.2 mm 测量值 [°C] 的 0.3%,加上 4.0 K ≤ 2 ms 当 T > 300 °C  ≤ 10 ms 当 T > 250 °C  ≤ 25 ms 当 T > 180 °C 1 K
0.25 K/K (当 T < 500 °C时)
0.05 %/K (当 T > 500 °C时)
PKL 38 AF 1
500 - 2500 °C
932 - 4532 °F
0.78 - 1.06 μm 0.21 m Ø 1.2 mm 测量值 [°C] 的 0.2%,加上 2.5 K ≤ 2 ms 当 T > 900 °C 1 K 0.07 %/K
PKL 38 AF 2
500 - 2500 °C
932 - 4532 °F
1.0 m .Ø 5.6 mm ≤ 2 ms 当 T > 900 °C 1 K
配有 LED 指示灯的双色红外测温仪
PKL 68 AF 1
650 - 1600 °C
1202 - 2912 °F
0.95 / 1.05 μm 0.21 m Ø 1.8 mm 测量值 [°C] 的 1.0% ≤ 10 ms 当 T > 750 °C 2 K 0.05 %/K
PKL 68 AF 2
650 - 1600 °C
1202 - 2912 °F
1.0 m Ø 8 mm ≤ 10 ms 当 T > 750 °C 2 K
*1 当 ε = 1 和 Tu = +23 °C 时
*2 误差加上 Tu = +23 °C

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